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EQE的測量中，核心是分子部分“單位時間內(nèi)出射到空間的光子數(shù)”的測量?，F(xiàn)在高精度的測量方法主要有兩種：

1）光分布法

2）積分球法

光分布法

之前許多用戶可能會采用通過亮度計測量法線方向的亮度，以及通過標準朗伯體分布理論計算得到器件的EQE值。這是比較常見的、傳統(tǒng)的測量方式，但其實存在很大的缺陷。由于實際中器件的朗伯體分布并非標準的余弦分布，會有部分分布不均的現(xiàn)象，此時通過理論計算的結(jié)果會非常不準確。而光分布法就可以解決這個問題，下圖便是很好的說明：

積分球法

第二種EQE的測量方法是通過積分球配件，將器件的整體光通量收集，并通過計算得到器件的EQE。該方法又有兩種測量方案，一種是將器件至于積分球球壁上，僅測量器件的前向通量，稱為2π法；一種是將器件置于積分球內(nèi)部，測量器件的整體通量，稱為4π法。

積分球法簡單快捷有效，但是器件本身的基底反射對于積分球的工作會有一定的影響

電致發(fā)光器件的另一個重要性能電流-電壓-亮度（IVL）。

電流參數(shù)（電流、電流密度等）隨電壓參數(shù)的變化曲線反映了器件的電學(xué)性質(zhì)。亮度隨電壓參數(shù)的變化曲線反映了器件的光學(xué)性質(zhì)。這類電學(xué)和光學(xué)參數(shù)之間的關(guān)系統(tǒng)稱為IVL（電流-電壓-亮度）關(guān)系，對于電致發(fā)光器件也非常重要。

通常情況下，IVL關(guān)系的測量需要多套電學(xué)測量系統(tǒng)和光學(xué)測量系統(tǒng)分別測量，測量全部的參數(shù)非常繁瑣。通過軟件整合電流源和光譜探測器的功能，C9920-11/12可以測量電流、電流密度、電壓、電流效率、功率效率、發(fā)射光譜、色度等一系列參數(shù)，并且逐一對應(yīng)，形成關(guān)系曲線，將測量操作化繁為簡。